Анализ метрологических характеристик эталонов
Автор: niaG • Апрель 10, 2018 • Курсовая работа • 5,786 Слов (24 Страниц) • 883 Просмотры
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ
ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ
«НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ
МОРДОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
ИМ. Н. П. ОГАРЁВА»
Институт электроники и светотехники
Кафедра метрологии, стандартизации и сертификации
ЗАДАНИЕ НА КУРСОВУЮ РАБОТУ
Студент
1 Тема Анализ метрологических характеристик эталонов
2 Срок представления работы (проекта) к защите 27.12.17
3 Исходные данные
[pic 1] | S, мкм | Θ1 мкм | Θ2 мкм | Θ3 мкм | Θ4 мкм | [pic 2] мкм/год | n |
1 м+1,35 мкм | 0,026 | 0,031 | 0,015 | 0,023 | 0,004 | 0,14 | 10 |
3.1
№ изм/Раб эталон | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
CИС-107-500 №24 | 428,997 | 482,999 | 483,001 | 483,003 | 483,004 |
3.2
мах, нм[pic 3] | , мкм[pic 4] |
629 | 0,19 |
3.3
4 Содержание курсовой работы
4.1 Определение погрешности рабочего эталона единицы длинны
4.2 Расчет неопределенности рабочего эталона единицы силы света
4.3 Расчет характеристик электронов при фотоэлектрическом эффекте
Руководитель работы ________ ______ __________________
(подпись) (дата) инициалы, фамилия
Задание принял к исполнению________ ______ _______________
(подпись) (дата) инициалы, фамилия
РЕФЕРАТ
Курсовой проект содержит 32 страницы, 3 теоретических описания, 3 расчетные части, 3 использованных источника.
ПОГРЕШНОСТЬ, ЭТАЛОН, КВАДРАТИЧЕСКОЕ ОТКЛОНЕНИЕ, ФИЗИЧЕСКИЙ ЭФФЕКТ, СИЛА СВЕТА, ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ЭФФЕКТ, НЕСТАБИЛЬНОСТЬ ЭТАЛОНА, ДОВЕРИТЕЛЬНЫЕ ГРАНИЦЫ.
[pic 5]
Цель работы – изучить анализ метрологических характеристик эталонов и физических эффектов, определить погрешности рабочего эталона единицы длинны, рассчитать неопределенность рабочего эталона единицы силы света и узнать значение длин волн для анализа фотоэлектрического эффекта.
В процессе работы использовались физические и математические формулы для расчетов задач.
Значимость работы – повышение качества знаний по дисциплине «Физические основы измерений и эталоны»
ВВЕДЕНИЕ
Метрологическая характеристика средств измерения- это характеристика одного из свойств средства измерений, влияющая на результат измерений и его погрешность. Для каждого типа средств измерений устанавливают свои метрологические характеристики. Тип средств измерений — совокупность средств измерений, предназначенных для измерения одних и тех же величин, выраженных в одних и тех же единицах величин, основанных на одном и том же принципе действия, имеющих одинаковую конструкцию и изготовленные по одной и той же технической документации.
Эталоном принято называть измерительное устройство, предназначенное и утверждённое для воспроизведения и (или) хранения и передачи шкалы измерений или размера единицы измереий средствам измерений. Эталоны призваны обеспечивать единство измерений в той или иной области науки, а также в других областях деятельности человека.
Для первичных и вторичных эталонов указывают все источники погрешностей и оценки этих погрешностей, способы их вычисления и суммирования.
Выражая точность эталонов неопределенностью измерений при воспроизведении единицы величины и передаче ее размера, указывают стандартную неопределенность, оцениваемую по типу А, стандартную неопределенность, оцениваемую по типу В, а также, при необходимости, суммарную стандартную неопределенность или расширенную неопределенность измерений.
...