Исследование систем освещения и их светотехнических характеристик

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования
«САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
АЭРОКОСМИЧЕСКОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ»

КАФЕДРА № 6

ОТЧЕТ
ЗАЩИЩЕН С ОЦЕНКОЙ

ПРЕПОДАВАТЕЛЬ

РАБОТУ ВЫПОЛНИЛ

Санкт-Петербург 2021

1. Цель работы:

Ознакомление с основными светотехническими характеристиками, определяющими условия работы в производственных помещениях; с видами и системами производственного освещения; требованиями санитарных норм на производственное освещение; методами и приборами для исследования светотехнических характеристик источников света, светильников и систем освещения.

1. Используемые формулы

Значение освещенности от источников местного освещения

Ем = Екомб- Еобщ

Коэффициент отражения

ΡОТН = [pic 1]

Сила света

I =  = R2Eотр[pic 2]

Освещенность для наклонной поверхности

Ен = Егcosα

Спектральная плотность лучистого потока источника

ϕ(λ) = [pic 3]

1. Результаты измерений и вычислений

1.  Результаты исследования естественной освещенности

Результат измерения Енар= 2800, лк (при Енар< 5000 лк табл. 1 не заполняется).

1.  Исследование систем освещения

 Таблица 2

1.  Исследование относительной светоотражающей способности фона

 Таблица 3